Optimasi Tegangan Akselerasi pada Scanning Electron Microscope – Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (SEM-EDX) untuk Pengamatan Morfologi Sampel Biologi
DOI:
https://doi.org/10.24246/juses.v6i2p117-123Keywords:
morfologi, optimasi, sampel biologi, SEM-EDX, tegangan akselerasiAbstract
Scanning Electron Microscope – Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (SEM-EDX) merupakan metode yang yang digunakan untuk pengamatan morfologi permukaan dan unsur kandungan berbagai jenis sampel padat dengan prinsip tembakan elektron. Keunggulan pengamatan perbesaran tinggi dan kemampuan deteksi unsur kandungan mulai dari unsur organik hingga anorganik menyebabkan penggunaannya sangat luas termasuk dalam pengamatan sampel biologi. Di Laboratorium Mineral dan Material Maju FMIPA telah banyak mendapat permintaan pengamatan sampel biologi menggunakan SEM-EDX. Akan tetapi, dalam penerapan pengondisian sampel biologi seringkali mendapati kendala hasil yang kurang maksimal. Pada sampel biologi tentu saja tidak hanya pengondisian sampel yang harus diperhatikan, melainkan juga faktor-faktor penting lainnya yaitu pengondisian peralatannya seperti tegangan akselerasi yang digunakan. Untuk didapatkan hasil yang maksimal, tegangan akselerasi sangatlah penting, faktor ini menentukan besarnya energi dan kedalaman tembakan elektron yang mengenai sampel. Dengan kondisi sampel yang kurang stabil namun diinginkan hasil morfologi yang maksimal serta unsur kandungan lengkap maka perlu dilakukan pengamatan dan penentuan optimalisasi tegangan akselerasi pada SEM EDX untuk pengamatan sampel biologi. Pada tulisan ini dilakukan pembahasan penentuan optimalisasi tegangan akselerasi pada pengamatan sampel biologi menggunakan tegangan akselerasi 5 kV hingga 30 kV. Hasil analisa SEM sampel biologi menunjukkan fenomena charging pada tegangan lebih dari 15 kV dan hasil analisa EDX menunjukkan pada tegangan kurang dari 15 kV beberapa kandungan unsur tidak terbaca.
Downloads
References
Adhika, D. R., Anindya, A. L., Tanuwijaya, V. V., & Rachmawati, H. (2018). Teknik pengamatan sampel biologi dan non-konduktif menggunakan scanning electron microscopy. Prosiding Seminar Nasional Instrumentasi, Kontrol Dan Otomasi, 53-58-53–58.
Hanif, Q. A., Hertiningtyas, C., & Saraswati, T. E. (n.d.). Mikroskop Elektron untuk Observasi Spesimen Biologi (Electron Microscope for Biological Specimen Observation). Welcome Speech from Committee and Head of Chemistry, 1.
Hastuti, U. S., & Rahmawati, I. (2016). The antagonism mechanism of Trichoderma spp. Towards Fusarium solani mold. The Journal of Pure and Applied Chemistry Research, 5(3), 178.
Ichinokawa, T., Iiyama, M., Onoguchi, A., & Kobayashi, T. (1974). Charging effect of specimen in scanning electron microscopy. Japanese Journal of Applied Physics, 13(8), 1272.
Indratmi, D. (2009). Penggunaan Debaryomyces sp. Dan Schizosaccharomyces sp. Dengan adjuvant untuk pengendalian penyakit antraknosa pada Mangga. Jurnal Gamma, 5(1).
Joy, D. C. (1985). Resolution in low voltage scanning electron microscopy. Journal of Microscopy, 140(3), 283–292.
Masta, N. (2020). Buku Materi Pembelajaran Scanning Electron Microscopy.
Pretorius, E. (2010). Influence of acceleration voltage on scanning electron microscopy of human blood platelets. Microscopy Research and Technique, 73(3), 225–228.
Setyaningsih, N. E., Muttaqin, R., & Mar’ah, I. (2017). Optimalisasi Waktu Coating pada Bahan Komposit Alam untuk Karakterisasi Morfologi dengan Scanning Electron Microscopy (SEM)–Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDX). Physics Communication, 1(2), 36–40.
Stokroos, Kalicharan, Der Want, V., & Jongebloed. (1998). A comparative study of thin coatings of Au/Pd, Pt and Cr produced by magnetron sputtering for FE‐SEM. Journal of Microscopy, 189(1), 79–89.
Tang, D., Ferreira, M. E., & Pistorius, P. C. (2017). Automated inclusion microanalysis in steel by computer-based scanning electron microscopy: Accelerating voltage, backscattered electron image quality, and analysis time. Microscopy and Microanalysis, 23(6), 1082–1090.
Yañez, M. J., & Barbosa, S. E. (2003). Changes in particle area measurements due to SEM accelerating voltage and magnification. Microscopy Research and Technique, 61(5), 463–468.
Downloads
Published
How to Cite
Issue
Section
License
Copyright (c) 2023 Jurnal Sains dan Edukasi Sains

This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.